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從標(biāo)準(zhǔn)到實(shí)踐:ASTM F1269指導(dǎo)下的球形凸點(diǎn)剪切力測試方法解析

 更新時間:2025-04-25 點(diǎn)擊量:58

在當(dāng)今高速發(fā)展的微電子封裝和半導(dǎo)體制造領(lǐng)域,球形凸點(diǎn)(如焊球、導(dǎo)電膠凸點(diǎn)、銅柱凸點(diǎn)等)作為芯片與基板互連的關(guān)鍵結(jié)構(gòu),其機(jī)械可靠性直接影響產(chǎn)品的使用壽命和性能表現(xiàn)。隨著封裝技術(shù)向高密度、微型化方向發(fā)展,凸點(diǎn)尺寸不斷縮?。ú糠忠呀抵?0μm以下),這對剪切力測試技術(shù)提出了更高要求。

ASTM F1269標(biāo)準(zhǔn)作為國際通用的球形凸點(diǎn)機(jī)械測試規(guī)范,為行業(yè)提供了科學(xué)的測試方法??茰?zhǔn)測控憑借多年材料力學(xué)測試經(jīng)驗(yàn),結(jié)合推拉力測試機(jī),開發(fā)了一套完整的球形凸點(diǎn)剪切力測試解決方案。本文將系統(tǒng)性地介紹測試原理、設(shè)備選型、標(biāo)準(zhǔn)解讀、操作技巧及典型應(yīng)用案例,為工程師提供實(shí)用的技術(shù)參考。

 

一、測試原理

球形凸點(diǎn)剪切力測試通過施加平行于基板方向的力,直至凸點(diǎn)發(fā)生斷裂或脫落,記錄最大剪切力值。該測試可評估以下關(guān)鍵指標(biāo):

剪切強(qiáng)度:最大剪切力與凸點(diǎn)橫截面積的比值(單位:MPa)。

失效模式:界面斷裂(粘接失效)、凸點(diǎn)內(nèi)聚斷裂或混合失效。

工藝一致性:多組凸點(diǎn)剪切力的離散性分析。

 

ASTM F1269標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了測試速度、刀具幾何形狀及數(shù)據(jù)采集要求,確保測試條件的一致性。

 

二、測試目的

1、球形凸點(diǎn)剪切力測試的意義

可靠性評估:量化凸點(diǎn)與基板/芯片的結(jié)合強(qiáng)度

工藝優(yōu)化:比較不同焊接/固化工藝的質(zhì)量差異

失效分析:識別界面斷裂、內(nèi)聚斷裂等失效模式

壽命預(yù)測:為熱循環(huán)可靠性提供基礎(chǔ)數(shù)據(jù)

2、剪切力測試的力學(xué)模型

根據(jù)彈性力學(xué)理論,球形凸點(diǎn)剪切過程可分為三個階段:

彈性變形階段:力-位移呈線性關(guān)系

塑性變形階段:材料發(fā)生屈服

斷裂階段:界面或凸點(diǎn)本體破壞

 

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三、測試工具和儀器

1、Alpha W260推拉力測試機(jī)

A、設(shè)備介紹

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Alpha W260推拉力測試機(jī)是專為微電子封裝設(shè)計(jì)的精密力學(xué)測試設(shè)備,常見的測試有晶片推力、金球推力、金線拉力等,采用高速力值采集系統(tǒng)。根據(jù)測試需要更換相對應(yīng)的測試模組,系統(tǒng)自動識別模組,并自由切換量程。產(chǎn)品軟件操作簡單方便,適用于半導(dǎo)體IC封裝測試、LED 封裝測試、光電子器件封裝測試、PCBA電子組裝測試、汽車電子、航空航天、軍工等等。亦可用于各種電子分析及研究單位失效分析領(lǐng)域以及各類院校教學(xué)和研究。

2、推刀

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3、常用工裝夾具

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四、測試流程

步驟一、樣品準(zhǔn)備

將帶有球形凸點(diǎn)的樣品(如BGA芯片)固定在測試平臺,確?;逅?。

使用光學(xué)系統(tǒng)定位目標(biāo)凸點(diǎn),調(diào)整刀具高度至凸點(diǎn)高度的50%~70%處(ASTM F1269推薦)。

步驟二、儀器設(shè)置

選擇ASTM F1269測試模板,設(shè)置參數(shù):

測試速度:50~500μm/s(依材料調(diào)整,默認(rèn)100μm/s)。

剪切方向:平行于基板,刀具與凸點(diǎn)側(cè)壁接觸。

終止條件:力值下降80%(凸點(diǎn)wan全剝離)。

步驟三、執(zhí)行測試

啟動測試機(jī),刀具勻速推進(jìn),實(shí)時監(jiān)測力值變化。

記錄最大剪切力(F<sub>max</sub>)及失效位置(界面或凸點(diǎn)內(nèi)部)。

步驟四、數(shù)據(jù)分析

計(jì)算剪切強(qiáng)度:

 

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統(tǒng)計(jì)分析同一批次凸點(diǎn)的強(qiáng)度分布,評估工藝穩(wěn)定性。

步驟五、報告輸出

生成包含以下內(nèi)容的測試報告:

最大剪切力、剪切強(qiáng)度、失效模式。

-位移曲線及光學(xué)顯微鏡失效圖像。

 

五、應(yīng)用案例

某半導(dǎo)體廠商采用Alpha W260測試錫銀焊球(直徑200μm),發(fā)現(xiàn)部分凸點(diǎn)剪切力低于標(biāo)準(zhǔn)值。經(jīng)分析為回流焊溫度不足導(dǎo)致界面結(jié)合不良,優(yōu)化后剪切強(qiáng)度提升35%。

 

以上就是小編介紹的有關(guān)球形凸點(diǎn)剪切力測試相關(guān)內(nèi)容了,希望可以給大家?guī)韼椭∪绻€想了解更多關(guān)于電阻推力圖片、測試標(biāo)準(zhǔn)、測試方法和測試原理,推拉力測試機(jī)怎么使用視頻和圖解,使用步驟及注意事項(xiàng)、作業(yè)指導(dǎo)書,原理、怎么校準(zhǔn)和使用方法視頻,推拉力測試儀操作規(guī)范、使用方法和測試視頻 ,焊接強(qiáng)度測試儀使用方法和鍵合拉力測試儀等問題,歡迎您關(guān)注我們,也可以給我們私信和留言,【科準(zhǔn)測控】小編將持續(xù)為大家分享推拉力測試機(jī)在鋰電池電阻、晶圓、硅晶片、IC半導(dǎo)體、BGA元件焊點(diǎn)、ALMP封裝、微電子封裝、LED封裝、TO封裝等領(lǐng)域應(yīng)用中可能遇到的問題及解決方案。